Rendtel, Ulrich und Hans-Joachim Lenz: Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung. (=Arbeiten zur angewandten Statistik ; Bd. 33).

Physica-Verl, Heidelberg, 1990.

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IX, 231 S.; Mit 41 Abb. Paperback

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Guter Zustand. Bibliotheksexemplar.

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