Transiente Mikrowellenreflexion zur kontaktlosen Trägerlebensdauermessung an Silizium für Solarzellen. (Reihe: Berichte aus der Halbleitertechnik).

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Schöfthaler, Martin: Transiente Mikrowellenreflexion zur kontaktlosen Trägerlebensdauermessung an Silizium für Solarzellen. (Reihe: Berichte aus der Halbleitertechnik).

Verlag, Shaker, 1995.

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Beschreibung:

Broschiert

Bemerkung:

8°, 189 Seiten, betitelter Okart. - guter Zustand - 1995. c35925 ISBN: 3826508904

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